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簡要描述：光電輪廓儀的應用范圍很廣，它主要用于測量各種精密加工零件表面的微觀三維結構，如表面粗糙度；零件表面的刻線；刻槽的深度和鍍層的厚度等。具體地說，如量塊、光學零件表面的粗糙度；標尺、度盤的刻線深度；光柵的槽形結構；鍍層厚度和鍍層邊界處的結構形貌；磁（光）盤、磁頭表面結構測量；硅片表面粗糙度及其上圖形結構測量等等。
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物理特性儀器
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WGL光電輪廓儀的產品介紹儀器由倒置式改為正置式，更符合人們的操作習慣；應用CMOS代替CCD，省去圖象卡并提高了質量；用低壓電源代替高壓電源，節(jié)省了儀器成本；用國產的代替德國進口壓電陶瓷，解決了關鍵部件的進口難題；增加了自動步距和亮度校正程序，同時增加了局部放大三維立體圖功能；
WGL光電輪廓儀的參數表面微觀不平深度測量范圍：130?1nm 測量的重復性：sRa≤0.5nm 測量精度：8nm 物鏡倍率：40X 數值孔徑：0.65 儀器視場 目視：f0.25mm 攝象：0.13X0.13mm儀器放大倍數 目視：500X 攝象（計算機屏幕觀察）：2500X 接收器測量列陣：1000X1000 象素尺寸：5.2X5.2?m
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